Willkommen bei Sentronics - A Nova Company!
Als Pioniere im disruptiven Denken und innovativer Technologie arbeiten wir mit über 180 Mitarbeitern an unserer Mission: Technologien von der Idee zur Realität zu verwandeln. Dein persönlicher Einfluss zählt bei uns – dein Wachstum ist unser gemeinsames Ziel. In agilen Teams brechen wir konventionelle Denkmuster auf, suchen Wissen überall und pflegen umfassende Zusammenarbeit. Wir haben zwei Standorte in Deutschland: einen in Bad Urach und einen in Mannheim. Unser Hauptsitz ist in Rehovot, Israel und wir betreuen Kunden weltweit mit Büros in Taiwan, Korea, Singapur, China, den USA, Japan und Europa. Komm mit auf diese transformative Reise, wo Innovation und Wirkung Hand in Hand gehen.
Seit 2024 sind wir Teil der Nova-Familie und vereinen das Beste aus beiden Welten: die Agilität eines mittelständischen Unternehmens und die Stärke eines internationalen Netzwerks. In unserem neuen, hochmodernen Produktions- und Entwicklungszentrum in Mannheim verbinden wir Spitzentechnologie mit einer modernen, menschenfreundlichen Arbeitsumgebung, die die Zusammenarbeit und das Wohlbefinden fördert. Neben spannender Arbeit bieten wir täglich kostenloses Frühstück, flexible Arbeitszeiten und regelmäßige Firmenveranstaltungen.
Sentronics metrology bietet ein hochentwickeltes Portfolio an SemDex-Messsystemen für alle Halbleiter-FABs, um die Qualität des gesamten Fertigungsprozesses zu kontrollieren und die Qualitätsergebnisse über SECS/GEM an den Host der FAB zu übermitteln. Unser Produktportfolio umfasst halbautomatische SemDex-Messsysteme wie SemDex 301 und SemDex M1 bis hin zu vollautomatischen Systemen wie SemDex M2 und SemDex A.
Jedes System enthält mehrere optische Messinstrumente zur Messung der geometrischen Abmessungen von Wafern, Mikrochips, sofern diese Teil eines Wafers sind, oder von Substrukturen eines Mikrochips, unabhängig davon, ob diese im Front-End-of-Line- (FEOL), Back-End-of-Line- (BEOL) oder Advanced-Packaging-Prozess hergestellt werden. Die Technologien hinter den Messinstrumenten basieren auf optischer Interferometrie und Reflektometrie sowie auf mikroskopischen Verfahren, die zu den präzisesten Messmethoden für geometrische Abmessungen zählen.